產(chǎn)品介紹
FPGA器件輻射效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)能夠適應(yīng)不同的類型的FPGA器件的輻射效應(yīng)試驗(yàn)，通過(guò)在線測(cè)試向量切換能力，動(dòng)態(tài)適配各種場(chǎng)景下FPGA器件的單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)、單粒子閂鎖效應(yīng)、單粒子功能中斷效應(yīng)等測(cè)試和評(píng)估，能夠通過(guò)總線速率適配調(diào)節(jié)滿足高速、長(zhǎng)線、真空等各種惡劣條件下的測(cè)試應(yīng)用。
2. 主要功能
l SRAM型/FLASH型 FPGA器件輻射效應(yīng)測(cè)試
l 在線測(cè)試向量切換
l 支持高速、長(zhǎng)線、真空測(cè)試應(yīng)用
l 單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)測(cè)試功能
l 單粒子功能中斷效應(yīng)測(cè)試功能
l 具備單粒子閂鎖效應(yīng)測(cè)試功能
l 具備故障注入能力
l 實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)上報(bào)功能
性能指標(biāo)
l 高速讀寫速度：≥40MHz
l 長(zhǎng)線測(cè)試距離：≥3m
l 電壓范圍：0.8V～5.0V
l 電流范圍：0～4A
l 閂鎖速率：100ms
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第一時(shí)間了解我們的新產(chǎn)品發(fā)布和最新的資訊文章。 陜西夸克自控科技有限公司成立于2007年7月，是一家半導(dǎo)體可靠性測(cè)試解決方案提供商，公司依靠豐富的測(cè)試系統(tǒng)工程經(jīng)驗(yàn)、半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)、高壓及微弱信號(hào)檢測(cè)技術(shù)、真空及輻射效應(yīng)測(cè)試技術(shù)、高... 您有什么問(wèn)題或要求嗎？
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