1．產品介紹
SRAM器件輻射效應測試套件包含可定制的夾具板、驅動與測試向量、可配置的軟件插件，基于QDRP平臺實現(xiàn)對通用異步SRAM器件的功能驗證、性能測試、單粒子翻轉測試、單粒子閂鎖測試等，支持自動重寫和自定義忽略地址功能，能夠快速定制各種封裝的夾具板以滿足輻射效應測試的要求。
2．主要功能
★ 手動數(shù)據(jù)寫
★ 手動數(shù)據(jù)讀
★ 手動數(shù)據(jù)對比
★ 自動測試，支持多片輪詢
★ 自動重寫
★ 忽略地址列表
★ 單粒子閂鎖檢測
★ 單粒子翻轉檢測
★ 獨立電源控制
★ 獨立電平/脈沖輸出功能
型號 | QKSRAM01 | QKSRAM06 |
供電電源 | 4路0.9V～5.5V/4A、2路1V～12V/2A | |
接口電平 | 1.2V～3.4V | |
數(shù)據(jù)接口類型 | LVCMOS | |
數(shù)據(jù)位寬 | 8/16/32 | |
地址接口類型 | LVCMOS | |
地址位寬 | 1～32 | |
數(shù)據(jù)方向切換 | 支持 | |
片選數(shù)量 | 1 | 6 |
通用IO | 8 | |
脈沖寬度 | 200ns～100ms | |
訪問時間 | 20ns～100ms | |
寫周期 | 20ns～100ms | |
忽略地址列表 | 8組×8 | |
聯(lián)系我們
第一時間了解我們的新產品發(fā)布和最新的資訊文章。 陜西夸克自控科技有限公司成立于2007年7月，是一家半導體可靠性測試解決方案提供商，公司依靠豐富的測試系統(tǒng)工程經(jīng)驗、半導體測試技術、高壓及微弱信號檢測技術、真空及輻射效應測試技術、高... 您有什么問題或要求嗎？
點擊下面，我們很樂意提供幫助。 聯(lián)系我們
